ISS 快速荧光寿命成像系统FLIM/FCS
产品简介
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基于激光共焦扫描显微系统--荧光成像、荧光强度扫描成像、荧光寿命扫描成像、荧光光谱扫描成像
新一代快速荧光寿命成像FastFLIM系统，提供单分子级的灵敏度，检测波长标准配置范围：350-1050nm；寿命范围100ps-100ms；用于化学、纳米、能源、生物等学科方向，单分子动态、活细胞、微区成像及形貌、能级结构和能量传递特征的机理研究，测试速度高达5fps（512×512），1×1 到 4096×4096成像，采用可视化Phasor plots荧光寿命直读半圆规，批量荧光寿命成像数据处理进入直读时代；振镜扫描适于所有时间尺度的寿命成像。活细胞工作站、变温测试可选用；
主要功能描述：
激光共焦荧光强度成像LCM；
荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；
上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；
荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS），FLIM-FRET成像；
单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像，包括交替激发PIE成像；
稳态及瞬态偏振成像；
微区荧光光谱采集及光谱成像；
反聚束测试；
Prof. Joseph R. Lakowicz 实验室选择的FLIM系统
数字频域技术DFD-FLIM （FastFLIM）和时域技术TD-FLIM （TCSPC）成像技术；
实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；
选择300-1600nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；
可以升级无波长干扰AFM，实现同区域形貌和FLIM同步测试；
紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；266nm-1300nm激光器可选；PIE功能可选；白光激光器可选用；
单光子或双光子的激光器；