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半导体温度试验箱2箱冲击试验箱

设备介绍：

  半导体温度试验箱2箱冲击试验箱此设备的主要特点是温度试验可以设定很快的冲击及变换，一般技术规格书里面是5分钟之内转换高温低温，但是是上是可以做到在10秒内就转换这个温度的，且测试出来的效果。破坏能力，功率比普通高低温试验箱高出许多倍，该试验设备主要适用于对电工、电子产品，以及其元器件、半导体、等行业的产品，在高温与低温很快冲击变换条件下，对原产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟试验，从而检测产品的耐用性能。

双槽高低温冲击箱冷热冲击试验型号

 AP-CJ-50  350*400*350

AP-CJ-100  500*400*400

AP-CJ-150  600*500*500

HAP-CJ-250 700*600*600

可按要求定制

试验方式:气动风门切换2温室或3温室方式

高温室预热温度范围:+60~+200℃

升温速率:+60到200℃约30分钟

低温室遇冷温度范围:-75~0℃

降温速率:+20到-75℃约70分钟

试验室温度偏差:±2℃

温度范围A:-40℃~+150℃，B:-55℃~150℃，C:-65℃~+150℃

温度恢复时间5分钟以内

试样搁架承载能力:30kg

试验重量:5kg

半导体温度试验箱2箱冲击试验箱结构特点：

材质:外壳防锈处理冷轧钢板（喷胶）或不锈钢（SUS304)；内体为不锈钢板（SUS304），绝缘材料为聚氨酯泡沫和玻璃纤维.

高温室:加热器

镍铬合金电加热器

风机:高温、环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机

低温室:加热器、冷却器

镍铬合金电加热、翅片式冷却器、蓄冷器

风机:离心风机

驱动装置:气动气缸高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用

空气压缩机:提供驱动气动风门的压缩空气(选件)

制冷机组:制冷方式

机械压缩二元复迭制冷:制冷压缩机半封闭活塞式

制冷剂23/R404 环保型

冷凝器:不锈钢钎焊板式换热器

控制器

操作界面7寸彩色液晶显示触摸屏，中文菜单提示

程序记忆容量:100 组用户程序（可自行编制，修改）

设定指标范围

时间：1分钟~99小时59分钟，循环：1~999循环

分辨率:温度： 0.01 ℃，时间： 1 分钟

输入:T型热电偶

控制方法:PID控制

附属功能:定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示

电源:AC380±10％V 50±0.5Hz，三相四线+保护地线

功率（kw）:20，21，22

冷却循环水

水压：0.2~0.4MPa,水温：≤30℃

压缩空气:0.5~0.7MPa

标准配置:试验箱状态表示灯,累时器1个,引线孔（25×100mm长圆型孔箱体左侧面）1个,脚轮6个,调整脚4个

科研院专用高低温冲击试验箱安全装置

漏电断路器,电动机温度开关、电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝，试验室温度过高、高、低温室超温保护开关，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，过低保护器（控制器内置），试验室温度过高、过低保护器，排气阀，试样电源控制端子（触点容量：交流250伏6安培），风机热继电器、外部报警端子（触点容量：交250伏2安倍）