工艺过程成像探头系统
2DVISIONPROBE工艺过程成像探头系统技术指标测量范围：数微米到数毫米(与镜头放大倍数
2D VISION PROBE
工艺过程成像探头系统
技术指标
测量范围：数微米到数毫米(与镜头放大倍数，相机等相关) 测量方式：在线测量晶体形态，平均尺寸，颗粒大小分布 测量浓度：可高达50%固体颗粒浓度(与颗粒形状相关) 工作温度：-10℃ - 120℃ 性能特征
特殊设计的探头(相机/镜头/光源)可广泛地适用于许多困难物系（尤其是非透明颗粒物系及高固体浓度）。 探头具有耐腐蚀性，能够对ph值1~12范围内的样品进行测量。 由于特殊的光源设计,本系统可有效地防止颗粒沉积/粘结于探头上。 根据不同物系及客户要求,本系统可设计不同方案(包括气体清理系统)。 强大的图像处理功能可实现颗粒多尺度分割, 计算颗粒形状参数 (主元素分析和傅立叶变换)，聚类分析和定量产品/过程控制。
应用实照
深圳黎华分析仪器有限公司
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