Mahr MarSurf M 400粗糙度测量仪
产品简介
详细信息
产品特征：
MarSurf M 400.较好的移动设备
测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。
这通常需要更熟练的操作员，更多时间和更多调整工作。
MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能，而且快速、简单易用。
移动和固定测量仪器
粗糙度和波纹度测量
扫描长度高达 26 mm
超过 50 R，W 和 P 表面参数
根据标准自动选择截止和扫描长度
动态校准功能
驱动装置和评估仪器之间可选有线和蓝牙连接 (4 m)
磁性测头支架（独立测头）BFW 250
机动测头归零设置（ 7.5 mm）
技术参数：
测量原则 | 探针法 |
输入 | 感应式滑动测头 |
测量范围 mm | BFW 无导块系统 |
轮廓分辨率 | 测量范围 +/- 250 µm：8 nm 测量范围 +/- 25 µm：0.8 nm |
过滤器符合 ISO/JIS 标准 | ISO 11562 标准高斯滤波 ISO 13565 标准滤波 |
采样长度数量符合 ISO/JIS | 1-5 |
接触速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
测量力 (N) | 0.75 mN |
重量驱动单元 | 约 0.9 kg |
重量测量仪 | 约 1.0 kg |
表面参数 | 超过 50 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W |
可选附件
测量立柱：ST-D、ST-F 和 ST-G，测量立柱上的支架
其他附件：CT 120 XY 工作台，平行虎钳，V 形块，用于带 BFW 测头系统的测杆