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通讯高低温冲击试验设备用途：用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
通讯高低温冲击试验设备特点
1）的造型设计，操作简易之面板接口
2）采用日制*彩色触控LCD中/英微电脑温湿度控制器。
3）具有程序建文件及档案管理之功能。
4）无纸式记录功能，具实时显示温度冲击试验变化之曲线图及记录双重功能。
5）冷热冲击机械移动时间在10秒内，可符合MIL，IEC，JIS等规范。
6）冷热冲击温度恢复时间在5秒内，可符合相关试验规范。
7）采用HFC环保冷媒，二元超低温冷冻系统设计，降温快效率高。
8）的中/英文版联机操作、设定、记录软件包。
主要技术参数 ：
1．内箱尺寸：500*400*400mm（宽，高，深）更多小或者大的尺寸均可非标定制。
   外箱尺寸：1380*1980*1370mm（宽，高，深）非标容积的设备外尺寸以实际尺寸为标准。
3．预热温度范围：常温～+200℃；
3．预热高温度范围：常温～200℃；约30min；（储能温度范围）
4． 预冷温度范围：常温～-75℃；约80,min（储能温度范围）（注：降温时间为低温室单独运转时的性能）
5．试验方式：3温区（也称三箱式，爱佩还有两箱式结构可选择)
6．温度冲击范围：-65℃～+150℃(中间任意温度可恒定测试或者设定冲击）
7．温度波动度：±0.5℃
8．温度偏差：±2.0℃
9．温度冲击恢复时间：≤5min(负载;3KG塑胶)
符合标准:
GJB367.2-87 405温度冲击试验。 
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 
GB/T 2423.22-2002温度变化 
QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则, 
EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。
GB/T2423.1-2001低温试验方法； 
GB/T2423.2-2001高温试验方法；