宇问涂层测厚仪EC-770
产品简介
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产品简介
宇问涂层测厚仪EC-770是适用于实验室或工业生产检测测试的涂层测厚仪，在涂料油墨等领域适用。宇问涂层测厚仪EC-770是宇问根据相关行业标准生产制造的，*。的包装清单包括主机x1、数据线x1、电池x2、光盘x1、使用说明书x1、基片x5、合格证x1。南北潮商城为宇问的*代理/经销商，均为原厂包邮。
规格参数
| 型号 | EC770 |
| 测量原理 | 磁感应（F探头）；涡流效应（N探头） |
| 测量范围 | 0~1300um |
| 测量误差 | ± (读数的3%+2um); |
| 精度 | 0um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm); |
| 校准 | 零点校准，并支持zui多4点校准 |
| 数据存储与分组 | 一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置。 |
| 统计值 | 支持平均值、zui小值、zui大值和标准方差。 |
| 支持单位 | um, mm, mils |
| 报警 | 用户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示。 |
| zui小曲率半径 | 凸1.5mm，凹25mm |
| zui小测量面积 | 直径6mm |
| zui小基材厚度 | 0.5mm（F探头）；0.3mm（N探头） |
| 电脑接口 | 可通过USB口连接计算机下载数据 |
| 电源 | 两节1.5V AAA电池 |
| 操作温度 | 0~40℃ |
| 保存温度 | -20℃ to 70℃ |
| 尺寸 | 110mm*53mm*24mm |
| 重量 | 92g |
产品图片
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